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Hitachi

株式会社日立テクノロジーアンドサービス

超深度形状測定顕微鏡VKシリーズ用大型サンプル対応ステージ

顕微鏡ヘッド移動領域 800 X 800 X 300mm。
顕微鏡ヘッド移動領域
800 X 800 X 300mm。

大型ワークをナノオーダー・超深度でダイレクトに観察可能。
大型ワークをナノオーダー・超深度で
ダイレクトに観察可能。

特長

  • ステージは高精度測定のため光学除振台を採用。
  • 測定ワークの荷重変動にもすみやかに 定盤を一定レベルに維持する自動レベリング機能付き。
  • X-Y軸ステージストローク 800mm
  • 繰り返し位置決め精度±0.01mm
  • ステッピングモータ駆動コントロールパネルによるダイレクト操作。
  • 外形寸法は小さくおさえながら超ロングストロークを実現。

仕様

仕様
対応サンプルサイズW800mm X L800mm X H300mm以下
X軸ステージ移動距離800mm、5相ステッピングモータ、繰返し位置決め精度±0.01mm
Y軸ステージ移動距離800mm、5相ステッピングモータ、繰返し位置決め精度±0.01mm
Z軸ステージ移動距離300mm、定位置回転ハンドルによる手動操作、移動距離デジタルメータ表示
除振台 自動レベリング機能付き空気バネ式光学除振台
レベリング方式:自動レベリング(0.55Mpa〜0.7Mpaの圧縮空気または窒素ガスで作動)
除振台定盤寸法:1500mm X 1200mm M6 X 50mmピッチマトリクス
レーザー顕微鏡キーエンス 超深度形状測定顕微鏡
測定部VK-8510 コントローラ部VK-8550
パソコンBM/PC互換機 CPUペンティアムIV1.6GHz(標準品)
ディスプレイ15型TFT(パソコン用)15型CRT(超深度形状測定顕微鏡用)
外形寸法・質量 ステージ本体 W1600mm X D1500mm X H1950mm、600kg
電源単相100V/50Hz 電源容量1.2KVA