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株式会社日立テクノロジーアンドサービス

Hitachi

人の手による自由落下試験を自動化

小型基板・ICの耐衝撃性を評価

規定質量の落下プローブを一定の高さから落下させ、 小型基板やICの耐衝撃性を試験する装置です。

小型基板・ICの耐衝撃性を評価

ワーク固定部
ワーク固定部

ひずみ測定結果
ひずみ測定結果

特長

  • リバウンド防止装置により、プローブの二度打ちを防止。
  • 安定したシングルインパクトによる評価試験が可能。
  • 落下高さ・繰り返し回数を入力するだけで、全自動繰り返し運転が可能。
  • レーザー測長計を搭載し、サンプルのたわみ量をひずみゲージ無で直接測定可能。
  • 加速度センサによる衝撃加速度測定タイプもラインナップ。

仕様

仕様
対応サンプルサイズ (MAX)W150mm X L150mm X T3mm
落下プローブ質量30g〜300g(任意に製作可能)
落下プローブ寸法 直径φ 8mm、全長160mm、ロッド先端R3mm
落下高さ50〜650mm(mm単位設定)
落下方式 自然落下
リバウンド防止装置 フォトセンサ感知シャッタ方式
運転種類 手動運転(インチング操作)、サイクル運転、自動繰り返し運転
操作方式 オペレータパネル入力方式
たわみ量測定出力 キーエンス社製レーザー変位計センサLBシリーズ搭載測定範囲±10mm(サンプル下方から測定)出力電圧±4V(0.4V/mm)
外形寸法・質量 W620mm X D600mm X H1170mm・約40kg
電源 AC100V(0.2kwベビコン付属)